Система 3Д цифрової кореляції зображень

Система цифрової кореляції зображення X-Sight 3D DIC

X-Sight 3D DIC — професійна стереоскопічна оптична система для безконтактного вимірювання деформацій, переміщень, напружено-деформованого стану та руху об’єктів у тривимірному просторі. Система базується на технології Digital Image Correlation (DIC) і призначена для дослідження матеріалів, компонентів, конструкцій та механізмів у лабораторних, промислових і науково-дослідних випробуваннях. На відміну від традиційних контактних екстензометрів, X-Sight 3D DIC не потребує механічного контакту зі зразком. Дві синхронізовані камери формують стереоскопічне зображення поверхні об’єкта, після чого програмне забезпечення Alpha DIC® визначає зміни положення контрольних точок і розраховує поле деформацій та переміщень.

  • 3D-вимірювання як площинних, так і позаплощинних деформацій.
  • Високоточний аналіз повного поля деформацій.
  • Вимірювання не тільки окремої бази, а всієї поверхні досліджуваного об’єкта.
  • Можливість роботи зі зразками та конструкціями від міліметрових до багатометрових розмірів.
  • Висока швидкість реєстрації для динамічних випробувань.
  • Розширені можливості постобробки та аналізу результатів.
  • Перевірка та валідація FEM-розрахунків і CAD-моделей.
  • Можливість адаптації системи під конкретне завдання шляхом вибору камер, об’єктивів, освітлення та додаткового оптичного обладнання.
Категорія:
Система M5 M16 M24 M67
Роздільна здатність 2 × 5 Мп 2 × 16,1 Мп 2 × 24,5 Мп 2 × 67,1 Мп
Частота при повній роздільній здатності 75 Гц 23 Гц 15 Гц 13,8 Гц
Вимірювальна область, Class 0.5* 130 × 110 мм 330 × 180 мм 330 × 285 мм 410 × 410 мм
Вимірювальна область, Class 1* 260 × 220 мм 660 × 360 мм 660 × 570 мм 820 × 820 мм
Вимірювальна область, Class 2* 520 × 440 мм 1320 × 750 мм 1320 × 1140 мм 1640 × 1640 мм
Інтерфейс USB 3.0 USB 3.0 USB 3.0 10GigE
*відповідає стандарту ISO 9513

– Роздільна здатність субпікселів у площині: < 0,008%

– Роздільна здатність субпікселів поза площиною: 0,016%

– Роздільна здатність за деформацією до 5 мікродеформацій

  – залежно від конфігурації системи та налаштувань вимірювання

  – можливе подальше покращення за допомогою усереднення за часом, де це застосовується

– Діапазон деформації від 0,0005% до > 2000%

– Діапазон області вимірювання (розмір зразка) від 1 мм до 100 м

  – зразок < 10 мм необхідно вимірювати спеціальним мікроскопом

  – зразок 10+ м можна калібрувати лише за допомогою функції калібрування великих об’єктів (LOCF)

– DIC природних візерунків, візерунків плям, особливостей зображення та маркерів

Під час випробування дві камери одночасно фотографують поверхню досліджуваного об’єкта. На поверхню може наноситися спеціальний контрастний speckle-малюнок, який система використовує для відстеження переміщення окремих ділянок поверхні.

Програмне забезпечення Alpha DIC® порівнює послідовні кадри та визначає зміщення кожної області зображення. Завдяки стереоскопічній конфігурації система визначає не тільки переміщення в площині, але й переміщення по третій координаті.

У результаті користувач отримує повну картину поведінки об’єкта:

  • деформації по осях X, Y, Z;
  • переміщення;
  • осьові та поперечні деформації;
  • деформації зсуву;
  • кутові переміщення;
  • локальні концентрації деформацій;
  • розвиток тріщин;
  • поля переміщень і деформацій;
  • зміни геометрії поверхні.

Супутні товари